Marco Pocaterra erhält Best Paper Award
Marco Pocaterra und Dr. Mauro Ciappa vom Institut für integrierte Systeme erhielten den Best Paper Award auf dem 30. European Symposium on Reliability of Electron Devices (ESREF).
Das Symposium fand vom 23. bis 26. September 2019 in Toulouse (Frankreich) statt und sie erhielten den Preis für ihre Forschung zum Thema «Characterization of the Onset of Carrier Multiplication in Power Deviced by a Collimated Radioactive Alpha Source».
Dieser Beitrag wird als Invited Paper auf dem 27. IEEE-IPFA-Symposium vorgestellt, das vom 2. bis 5. Juli 2020 in Singapur stattfinden wird.
Das Paper wurde im externe Seite Elsevier Microelectronics Reliability journal veröffentlicht.
Herzlichen Glückwunsch!