Best Paper Award for Marco Pocaterra and Dr. Mauro Ciappa
Marco Pocaterra und Dr. Mauro Ciappa vom Integrated Systems Laboratory (IIS) sind am «33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices and Physics» (ESREF 2022) mit dem Best Paper Award ausgezeichnet worden. Das Symposium wurde vom 26. bis 29. September 2022 von der Fraunhofer-Gesellschaft in Berlin veranstaltet.
Die Autoren des Papers mit dem Titel
externe SeiteCharacterization of the carriers' multiplication in Si and SiC power devices by soft-gamma irradiation under cryostatic conditions
wurden für die Entwicklung eines neuartigen und unkonventionellen Ansatzes zur Charakterisierung der Anfälligkeit von Leistungshalbleitern für Schäden durch terrestrische kosmische Strahlung ausgezeichnet.
Diese Studie wird als eingeladener Beitrag auf dem 60. IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS 2023) vorgestellt, das vom 26. bis 30. März 2023 in Monterey (USA) stattfindet.